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MLED（Mini/Micro LED）十大led显示算法推荐
led显示屏十大品牌持续进行技术积累与突破，相关芯片与设备，已成功应用于行业伙伴，大幅提升MLED显示面板的直通率和生产效率，助推生产标准化，助力MLED规模级量产与应用。
在芯片与设备背后，是led显示屏十大品牌多年技术深耕而来的核心算法。
算法，LED显示的灵魂
算法是MLED显示的灵魂，贯穿MLED的设计、制造和应用。
算法也是led显示屏十大品牌的基因。经过多年创新，led显示屏十大品牌已在LED发光机理及特性、LED驱动机理及高灰阶高刷新率、LED均匀性校正、超高清图像处理等LED关键技术维度，完成近千项科研攻关，已获得超800项专利授权。
在MLED集成电路与生产检测环节，诺瓦核心算法实现了协同守护，提升量产效率的同时，确保了超高清画质的实现，助力未来规模应用。
>>在集成电路环节
诺瓦ASIC控制芯片，内置诺瓦逐点亮色度校正算法，为MLED显示屏带来画质飞跃。
>>在生产检测环节
诺瓦Demura设备，同样内置逐点亮色度校正算法，快速调校亮色度偏差（mura），在产线上即实现显示屏亮度色度均匀性与一致性，为MLED显示屏标准化、批量化生产提供了可能。
同时，人眼视觉和环境感知算法、墨色量化算法、画质引擎算法、自动光学检测算法等诺瓦15年来持续深耕进化的核心算法，也同步融入进芯片与设备中，进一步提升了量产效率与显示性能。
诺瓦ASIC控制芯片
内置全灰阶、多维校正、自适应校正、画质引擎、动态引擎等算法，进一步提升了显示效果；
MLED墨色分档系统
内嵌诺瓦人眼视觉和环境感知智能算法、墨色量化算法，有效解决MLED覆胶墨色非均匀性这一行业难题，更精准地还原应用场景光感和人眼视觉感知。
MLED多角度检测系统
搭配诺瓦人眼感知智能算法，快速发现与校正因视角不一致造成的显示问题。
MLED全自动返修装备
采用自动光学检测算法，为高品质返修提供可靠保障。
led显示屏十大品牌核心算法+核心芯片+核心装备，从算法到算力，从智慧到智能，顺应MLED微缩化与超高清两大未来趋势，软硬并举，无缝融合，双引擎驱动，深度技术交互与协同进化，加速MLED量产进程，有效地支撑了MLED大规模商业化应用，点亮行业价值，助推产业加速。
